【報(bào)告時(shí)間】2019年04月19日15:00-17:00
【報(bào)告地點(diǎn)】曹光彪大樓324會(huì)議室
【報(bào)告題目】球差矯正電子顯微學(xué)及其應(yīng)用
【報(bào)告人】葛炳輝教授
【邀請(qǐng)人】朱鐵軍教授
【報(bào)告人簡(jiǎn)介】
葛炳輝教授，安徽大學(xué)物質(zhì)科學(xué)與信息技術(shù)研究院教授，博士生導(dǎo)師，電鏡中心主任。主要從事球差矯正電子顯微學(xué)方法，電子晶體學(xué)和像襯理論研究，以及球差矯正電鏡在熱電材料，催化劑和合金等方面的應(yīng)用研究。在Ultramicroscopy,Microscopy,Advanced Materials, Nature Communications, JACS,Joule等國(guó)外期刊共發(fā)表論文50余篇，編寫電鏡方面專著2章節(jié)。入選2018 Nature Index Rising Star。
【報(bào)告摘要】
球差矯正器發(fā)明于上世紀(jì)90年代末，它的出現(xiàn)為電鏡領(lǐng)域帶來革命性的進(jìn)步，從此利用透射電鏡觀察材料原子級(jí)別的微觀結(jié)構(gòu)成為現(xiàn)實(shí)。報(bào)告首先介紹了樣品厚度對(duì)高分辨成像的影響：引入假象同時(shí)也可提供更多信息；然后介紹利用球差矯正HAADF技術(shù)實(shí)現(xiàn)斷層成像，獲得原子分辨率結(jié)構(gòu)信息，也可以用于區(qū)分調(diào)制結(jié)構(gòu)和摩爾條紋；最后介紹利用球差矯正電鏡分析某熱電材料中的短程有序結(jié)構(gòu)。
